I. Gebruik

De ZXGP-500-serie helder donker veld silicium plaat detectie microscoop is geschikt voor de microobservatie van zonnecel silicium plaat. Dit instrument is uitgerust met een grote bewegingsbereik draagbank, landingsverlichting, lange werkafstand vlak veld kleurverdwijning objectieven, grote zichtveld bril, helder beeld, goede voering, eveneens uitgerust met een polarisatie apparaat, en zijn hoge pixel digitale camera. Dit instrument is uitgerust met een donker veldobjectief om het beeld duidelijker te maken bij het observeren van silicium, en is het ideale instrument voor het detecteren van de microscopische morfologische verdeling van de "piramide" van silicium van zonnecellen en de defectanalyse van silicium.

De siliciumdetectiemicroscoop kan met het blote oog moeilijk waarneembare locatiefouten, krassen, crashranden enz. waarnemen; Het kan ook worden geanalyseerd voor de onzuiverheden van silicium plaat, residuen samenstelling. Onzuiverheden omvatten: deeltjes, organische onzuiverheden, anorganische onzuiverheden, metaalionen, siliciumstof, enz., waardoor het siliciumflak na het slijpblad gemakkelijk kan ontblomen, blauw worden, zwart worden en andere verschijnselen, waardoor het slijpblad niet gekwalificeerd is. Het is een van de meest gebruikte controleinstrumenten in de productie van siliciumcellen voor zonnecellen.

Technische normen