Meetvereisten
Het meten van de driedimensionale vorm van de stoffilm van de hoofdtelefoon en het detecteren van defecte locaties op de stoffilm

Overzicht van de belangrijkste kenmerken
Contactloze meting, geïntegreerd ontwerp

2. 3D-vormscan, multifunctionele gegevensverwerking
3. geschikt voor nauwkeurige meting van verschillende materialen

4. Eenvoudig te gebruiken, gemakkelijk te demonteren

5. Snelle scansnelheid en hoge positioneringsnauwkeurigheid

6. ± 0,5 tot ± 1 μm herhaalde nauwkeurigheid gegarandeerd

7. hoge stabiliteit, sterke anti-interferentie capaciteit

Metresultaten
Het verschil is ongeveer 7 μm ± 1 μm

Problemen oplossen met het meetapparaat in deze fase

Er zijn bepaalde eisen aan het meetmateriaal
2. contactmeting, schade aan het meetmateriaal
Klein meetbereik, onzekere locatie, moeilijke meting
Langzame meetsnelheid, lage nauwkeurigheid, grote meetfouten

5. complexe structuur, hoge kosten