Hitachi Hightech heeft op 15 april 2016 een nieuwe scannelektronenmicroscoop, de FlexSEM 1000, wereldwijd gelanceerd. Het product is compact en omvat een klein gebied, maar de resolutie verliest geen grote elektroscopen, terwijl het zeer eenvoudig te bedienen is en nauwelijks kan worden bediend zonder training. Compact ontwerp met een resolutie van 4 nm.
Scan-elektronenmicroscopen kunnen een hoge vergrooting van het oppervlak van het materiaal en een hoge nauwkeurigheid elementaire analyse, met een breed scala van toepassingen op het gebied van nanotechnologie, life sciences, product design R & D en fout analyse. De afgelopen jaren is de vraag naar scannelektroscopen voor het observeren van fijne oppervlaktestructuren en elementaire analyses toegenomen, terwijl steeds meer gebruikers scannelektronenmicroscopen willen gebruiken in beperkte ruimten zoals productielijnen, kwaliteitscontrolelijnen en kantoorruimtes. Daarom wordt veel aandacht besteed aan kleine, eenvoudig te bedienen en hoge resolutie scannelektronenmicroscopen. De FlexSEM 1000 is 450 mm breed en 640 mm lang en biedt 52% minder volume, 45% minder gewicht en 50% minder stroomverbruik dan de SU1510 en is voorzien van een gestandaardiseerde voedingsinterface. De host en de voedingseenheid kunnen worden gescheiden en de installatie is zeer flexibel.
De FlexSEM 1000 beschikt over een nieuwst ontworpen elektronisch optisch systeem en een zeer betrouwbare, zeer gevoelige detector met een resolutie tot 4nm. De FlexSEM 1000 beschikt over een breed scala aan automatiseringsfuncties voor eenvoudige bediening, zodat zelfs de eerste gebruiker snel beelden van hoge kwaliteit kan maken. Bovendien kan de nieuw ontwikkelde navigatiefunctie "SEM MAP" een verscheidenheid aan optische of elektroscopische foto's gebruiken om snel en nauwkeurig met één klik over te schakelen naar een interessant gezichtsveld met hoge vergrooting.

Kenmerken:

a. Door middel van een hoge gevoeligheid secundaire elektronische detector, back scatter detector, lage vacuüm detector (UVD)^*2), waarmee beeldwaarneming van hoge kwaliteit onder lage versnellingsspanning / laag vacuüm wordt bereikt

b. Eenvoudig te bedienen, zelfs beginners kunnen foto's van hoge kwaliteit maken

c. Nieuw ontwikkelde navigatiefunctie "SEM MAP" voor een snelle vergrendeling van het zicht

Grote ramen (30 mm)²SDD-spectrum systeem voor snelle analyse van de samenstelling van elementen^*2

*1 Scheid de host en de voedingsbak bij het instellen op het bureaublad

*2 Optioneel

Projecten		Inhoud
ontbindingskracht*3		4,0 nm @ 20 kV (SE: hogevacuümmodus) 15,0 nm @ 1 kV (SE: hogevacuümmodus) 5,0 nm @ 20 kV (BSE: lage vacuümmodus)
Versnelde spanning		0.3 kV ～ 20 kV
Vergroot		6 x tot 300.000 x (filmvergrooting) 16 x tot 800.000 x (weergave vergrooting)
Laag vacuümmodus		Vacuümbereik: 6 tot 100 Pa
Elektronische wapens		Pre-pairing wolfram draad
Voorbeeld Stand		3-as automatische motorstation X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R：360°, T：-15° ～ ＋90°
Maximale steekproefgrootte		Diameter 80 mm
Maximale monsterhoogte		40 mm
Afmetingen		Vastgoed: 450(W) x 640(D) x 670(H) mm Voedingseenheid: 450(W) x 640(D) x 450(H) mm
Detector opties		Hoge gevoeligheid lage vacuüm secundaire elektronische detector (UVD) Energieverspreide röntgendetectoren (EDS)